LUMOS II

Termékjellemzők

Kivételes IR.

Ragyogó megjelenítés. Ultragyors képalkotás.

A LUMOS II egy önálló FT-IR mikroszkóp, amely kiválóan alkalmazható a hibakivizsgálásban, az anyagkutatásban és a részecskeelemzésben. Kompakt, precíz és ultragyors kémiai képalkotás az FPA technológia segítségével.

Teljesen automatizált FT-IR imaging mikroszkóp

Könnyű, átlátható kezelhetőség bármely felhasználó számára
A legkiválóbb teljesítmény mind transzmissziós, reflexiós vagy ATR mérési módban
Rendkívül könnyű hozzáférés a mintatérhez

Jellemzők

TE-MCT detektor standard
Plug & Play: nincs szükség folyékony nitrogénre, szárazlevegő-öblítésre
Opcionális FPA képalkotó detektor
Új PermaSure+ kalibrációs technológia
Teljesen motorizált és automatizált hardver
Akár 40 mm magas minták befogadására alkalmas
Az alkatrészek hosszú élettartamúak, beleértve a lézert is
Inert a magas páratartalomhoz (ZnSe optika)
Önálló kialakítás, kis helyigény
Alacsony energiafogyasztás.

Kiváló µ-ATR FT-IR lehetőségek

Az objektívbe épített, nagypontosságú piezoelektromos motorokkal vezérelt visszahúzható ATR kristály az egyik legegyedibb fejlesztés, amely kiemelkedővé teszi a LUMOS II mikroszkópot a hibakivizsgálás és termékfejlesztés területén. A beépített nyomásérzékelő biztosítja, hogy a mérendő mintán ugyanolyan nyomást alkalmazzunk. Az ATR kristály a reflexiós és transzmissziós mérések során az objektívben rejtve marad, ATR mérések eseteén egy kódolt piezo meghajtó segítségével kerül az IR sugár fókuszába.

Alkalmazások