A Bruker INVENIO X FT-IR spektrométer az INVENIO platform kiemelten automatizált kutatási konfigurációja. Az innovatív INTEGRAL™ interferométer automatikus nyalábosztó-váltását a MultiTect™ többdetektoros technológiával kombinálja.
Ennek eredményeként összetett, több spektrális tartományt érintő FT-IR mérések végezhetők minimális manuális optikai átszereléssel. A rendszer különösen alkalmas olyan kutatólaboratóriumok számára, ahol a nagy spektrális felbontás, széles mérési tartomány és automatizálás egyszerre követelmény.
Az INVENIO X egyik meghatározó technológiája az INTEGRAL™ interferométer, amely precíziós cube-corner optikát és automatikus hárompozíciós nyalábosztó-váltót alkalmaz.
A rendszer képes automatikusan a mérési tartományhoz megfelelő optikai konfigurációt kiválasztani. A MultiTect™ detektorrendszerrel kombinálva ez jelentősen csökkenti a manuális komponenscserék szükségességét.
Megfelelő nyalábosztók, detektorok és fényforrások telepítésével az INVENIO X több spektrális tartomány egymást követő mérését automatizálhatja.
A rendszer FIR-, MIR-, NIR- és VIS/UV tartományokat képes egyetlen kutatási platformon kezelni, így komplex anyag- és eszközkarakterizálási feladatokra is használható.
A MultiTect™ akár öt automatikusan vezérelt szobahőmérsékletű vagy stabilizált detektort kezelhet, többek között DTGS, InGaAs, Si és GaP típusokat.
A külön DigiTect™ pozíció MCT, InSb és egyéb speciális detektorok használatát teszi lehetővé. A Transit™ csatornával együtt akár hét belső, szoftverből választható detektor állhat rendelkezésre.
MultiTect detektor
Az INVENIO X nagy spektrális felbontása alkalmassá teszi többek között gázfázisú spektrumok, finom rotációs-vibrációs szerkezetek és összetett kutatási minták vizsgálatára.
Rapid Scan és Step Scan módszerekkel gyors reakciók és időfüggő fizikai vagy kémiai folyamatok is tanulmányozhatók.
Tipikus kutatási területek:
